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高加速寿命试验(HALT)的目的和优点

2020-12-21 17:18       

  高加速寿命试验(HALT)是一种对产品采用快速高、低温变换的震荡体系来呈现出产品设计的缺陷和不足的试验。高加速寿命试验(HALT)的目的是在产品研发的初期阶段测试出产品的损坏极限,由此来改良产品来提高其可靠性。

  高加速寿命试验(HALT)的具体测试内容包括以下几点:1. 逐步施加应力直到产品失效或出现故障;2. 采取临时措施,修正产品的失效或故障;3. 继续逐步施加应力直到产品再次失效或出现故障,并再次加以修正;4. 重复以上试验→失效→改进的步骤;5. 找出产品的基本操作界限和基本破坏界限。

  

高加速寿命试验(HALT)

 

  二、高加速寿命试验(HALT)的主要优点:

  a.消除设计缺陷,提高设计可靠性,确保能获得早期高可靠性,使设备具有高的外场可靠性;b.减少鉴定试验时的故障,经过高加速寿命试验的产品,鉴定试验已不重要,仅是一种形式而已;c.降低寿命周期费用;d.能确切了解工作极限和损坏极限,为制定HASS方案,确定应力量级提供依据。

  高加速寿命试验(HALT)须由一个团队参与。为保证试验的顺利进行,并得到精准的试验结果,此团队应由不同专业的技术人员组成,即涉及到与产品研发设计、制造工艺和质控等专业技术人员。

  

HALT

 

  高加速寿命试验(HALT)在国内外电子行业领域已获得广泛关注和了解。因其具备传统的环境试验技术无法媲美的作用,现如今被国外许多知名企业采用。该试验可以直接体现出来的关键点,有以下几个方面:1.快速暴露产品的潜在缺陷;2.通过试验→改进→验证这一循环方式,有效增加产品的的极限值;3.产品的可靠性获得显著提升;4.大大缩短产品研发、设计、生产和上市的周期;5.长远来看,减少产品成本。

  迈科检测是一家专业的第三方检测机构,可为您提供高加速寿命试验(HALT)等测试试验服务,欢迎前来咨询。