2021-04-28 16:40
目前验证电子设备可靠性指标的方式主要有基于GJB899A的常规可靠性试验、可靠性评估和加速可靠性试验等。
其中，基于GJB899A的常规可靠性试验适用于可靠性指标相对不高的电子设备。一般根据电子设备相关技术文件的规定，通过选取合适的试验统计方案，在实验室环境条件下施加极限应力进行考核验证，其特点是试验周期相对较长、试验费用较高。
可靠性评估一般通过收集设备某个阶段的实际使用数据或各个分设备试验数据进行统计分析，定量评估其可靠性指标。由于系统级电子设备组成庞大、结构复杂，国内实验室不具备系统级可靠性试验的能力，一般采用可靠性评估的方式进行验证。因此，可靠性评估适用于系统级的电子设备。
可靠性加速试验是基于电子设备的故障物理分析结果，以确定电子设备的加速试验条件和加速因子，通过对电子设备施加高于正常水平的应力，实现在较短的时间内快速评估电子设备可靠性水平的试验方法。可靠性加速试验解决了常规可靠性试验时间长、效率低及费用高等问题，适用于高可靠性(通常指标在5000h以上)、长寿命的电子设备。
随着科技的快速发展和进步，武器装备的研制周期越来越短、更新换代的速度越来越快。尤其是在武器系统中起重要作用的电子设备，其逐渐向小型化、数字化和集成化的方向发展，同时随着工艺和技术水平的进步，许多电子设备的可靠性指标已经达到了数千甚至上万小时以上。电子设备可靠性水平的大幅提升，使得常规的可靠性试验方法难以满足高可靠性电子设备指标验证的需求。为快速评价电子设备的可靠性水平，采用可靠性加速试验的方式成为研制方的不二选择。
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